Discussion:Microscopie électronique à balayage

Qui est le père de la microscopie électronique à balayage ?

Je reproduis d'abord l'échange que j'ai eu avec Steff à propos de l'article Max Knoll

Bonsoir EDC,

j'ai vu que vous êtes intervenu sur l'article sur Max Knoll en précisant que lui et Ruska avaient inventé le MET. J'ai créé cet article sur ce physicien car je m'occupe de l'article Microscopie électronique à balayage et j'essaie de combler quelques liens rouges. Je sais (en gros) me servir d'un MEB mais j'avoue ne rien connaître sur l'histoire de ce microscope et donc je me base sur différentes sources que j'ai trouvées sur le net. Ces sources semblent s'accorder sur le fait que c'est Max Knoll qui en a créé le principe : voir ce site avec Knoll, the co-inventor of the TEM with Ruska, was the first to publish images from solid samples obtained by scanning an electron beam (Knoll 1935) puis celui la avec The earliest known work describing the concept of a Scanning Electron Microscope was by M. Knoll (1935) et enfin ce site avec Ce qui nous concerne plus directement dans le présent volume, c'est le travail poursuivi dans une autre pièce par Max Knoll et Manfred von Ardenne. Ils y conçoivent et réalisent le prototype du microscope électronique à balayage. Voila ce que j'ai trouvé concernant le MEB... que dit votre livre The Early Development of Electron Lenses ans Electron Microscopy ?

Merci. Stéphane 1 janvier 2006 à 23:06 (CET)

Toutes les sources que vous citez sont tout à fait sérieuses (ce sont de vraies publications), et en accord avec le bouquin que j'avais mis en référence, mais que j'avais mal lu, autant pour moi. J'ai eu raison, cependant de remplacer balayage par transmission chaque fois que Knoll est associé à Ruska, mais à partir de 1935, il apparait que Knoll travaille effectivement sur un projet que l'on peut considérer comme l'ancêtre de la microscopie à balayage. EdC 2 janvier 2006 à 00:18 (CET)

Question délicate que celle de décider qui est le "père" d'une invention qui est dans l'air du temps ? Comme il s'agit d'instrumentation, j'aurais tendance à répondre qu'il faut donner la première lace à celui qui a obtenu des résultats qui ont donné à l'instrument une place dans l'histoire. Von Ardenne et Oatley, donc, plutôt que Knoll dont l'Electron Beam Scanner ne se veut pas un microscope et son principe a été antériorisé (par exemple, par Stinzing). A mon avis, dans l' article, McMullan met Knoll en avant pour mieux noyer ses prédécesseurs (de McMullan) que sont Von Ardenne et Zworykin. --EdC 3 janvier 2006 à 00:13 (CET)

Est-ce bien utile de dire qui est l'unique "père" de cet instrument (la question de posera surement aussi pour le MET) ? Pour ne vexer aucun de ces messieurs, il serait peut être mieux de ne citer personne en tant qu'inventeur "officiel"... mais de préciser justement qui a mis au point la théorie, mis au point le premier instrument ou qui a obtenu la première image. Stéphane 3 janvier 2006 à 01:00 (CET)

je suis d'accord, bien sûr. Mais de fait, si l'on choisit de mettre une ou plusieurs photos, on suggère une présomption de légitimité en faveur de ceux dont on a mis la photo. Or actuellement la photo de Knoll suggère que le grand monsieur du SEM, c'est Knoll, ce qui ne me semble pas reconnu par les microscopistes à balayage. A mon avis, les photos de Von Ardenne et Oatley seraient plus pertinentes. --EdC 3 janvier 2006 à 08:20 (CET)

J'avais mis la photo de Knoll avant de me rendre compte que cette histoire de paternité n'était pas aussi simple que ça. Je vais essayer de trouver d'autres bouquins pour établir clairement qui a fait quoi dans l'histoire du MEB... et ensuite on pourrait modifier les photos. Il faudrait peut être se limiter à un ou deux portraits... si on veut mettre tout le monde, ça risque de faire surchargé. Stéphane 3 janvier 2006 à 17:59 (CET)

Bon, tout ça n'est pas bien grave. Si tu laisse la photo de Knoll, je n'en ferai pas une maladie. Je pinaille, car il se trouve que je m'intéresse au sujet en ce moment. A mon avis, les sites que tu as déjà visités sont bien assez riches pour donner une bonne idée de la question. --EdC 3 janvier 2006 à 20:46 (CET)

Message copié depuis ma page de discussion et consercant le MEB. Stéphane 28 janvier 2006 à 12:47 (CET)

Bonjour, Steff, Bravo pour le patient enrichissement de l'article "MEB". Je traduirais "electron beam scanner", au choix, par "scanner à faisceau d'électrons" ou "appareil à balayage de faisceau d'électrons". Il me semble qu'effet de relief remplacerait avantageusement 3D, trop connoté imagerie artificielle. L'articulation Knoll-Von Ardenne-Zworykin-Oatley me parait tout à fait correcte, mais je conteste toujours un peu la mention faite au seul Knoll dans l'en-tête. Il n'y a pas de nécessité à désigner un inventeur unique. On peut tout simplement dire "au milieu du XXeme siècle", ou bien citer quelques personnes, par hasard. Une dernière chose: Avais-tu l'intention de citer Everhart-Thornley pour leur détecteur, en 1960 ? Je crois que leur détecteur a sa part dans le triomphe des SEM à partir de 65.

Oui, j'ai l'intention de parler du détecteur de Everhart-Thornley dans le paragraphe sur l'imagerie en électrons secondaires et éventuellement le mentionner dans le partie "Histoire" (qui n'est pas encore finie). Stéphane 29 janvier 2006 à 14:21 (CET)

encombrement, consommation

Bonsoir,

J'y connais rien, mais en parcourant l'article je me suis posé cette question :

est-ce que tu pourrais en ramener un chez toi à la maison et le faire marcher ?

Càd est-ce que l'encombrement des MEB actuels et leur consommation électrique sont devenus "faibles" ou bien est-ce encore monstrueux ?

Cf analogie avec les premiers ordinateurs (ENIAC) qui avaient besoin d'un immeuble entier et d'une centrale électrique pour fonctionner, alors que maintenant les ordinateurs de bureau ou pour la maison consomment qq centaines de watts et les serveurs d'entreprise environ un millier.

D'ailleurs si c'était le cas par le passé, et que des ancêtres célèbres sont citables, ça serait bien de l'ajouter, en direct ou sous forme d'article séparé (si c'est pas déjà fait).

Bon courage pour la continuation de cet article !

— Boism 23 février 2006 à 01:44 (CET)

Si tu avais des sous (beaucoup), de la place (une grande pièce) et des connaissances en microscopie (pas mal aussi, c'est pas simple un MEB !) alors je ne vois pas ce qui t'empêcherait d'en acheter un pour chez toi ! Je me rends compte, d'après ton commentaire, que la photo de l'article n'est pas très explicite. Un MEB n'est pas juste le bidule blanc qu'on voit sur la photo, il y a à coté tout le sytème informatique pour gérer la machine (maintenant tout se fait par informatique et en un coup de souris mais eu je le "plaisir" d'utiliser un ancien MEB une fois et il faut cliquer, enfoncer, tourner pas mal de boutons pour obtenir une image de bonne qualité). De plus derrière se trouve généralement tout le sytème de pompe + l'alimentation + souvent un système de climatisation dans la pièce où on l'utilise. Je vais essayer de prendre d'autres photos un peu plus larges pour mieux rendre compte de la taille de l'appareil.

La partie histoire n'est pas encore finie mais je pense que oui, la taille des MEB a diminué depuis le premier créé mais pas dans les mêmes proportions que pour les ordinateurs. On est passé, en 60 ans, de l'ENIAC à l'IPod... je ne pense pas qu'un jour un MEB tiendra dans la poche ! La miniaturisation doit être plutot équivalente au passage d'un armoire à une gros bureau ou qqch de ce genre.

Pour finir, merci à toi d'avoir pris le temps de lire cet article... et d'avoir pointé des problèmes dont j'avais même pas conscience... :-) Stéphane 23 février 2006 à 11:15 (CET)

D'autant plus j'ai entendu dire qu'il faut de temps en temps refroidire le MEB avec de l'azote liquide (-80°C) pour ne pas perdre l'appareil. - pixeltoo 9 mai 2006 à 23:13 (CEST)

Refroidir a l azote liquide (qui est a -195,79 °C) sert uniquement pour les detecteurs EDX avec Reservoir Dewar, ce qui permet un meilleur rendu signal/bruit. De nos jours, certains detecteurs sont refroidis par effet Peltier et evitent d avoir de l azote liquide.--Bergie (d) 3 mars 2010 à 08:57 (CET)

préparation

Concernant la préparation MEB/MET, pouvez-vous donner plus de détails (ou faire une ou plusieurs pages dédiées) ?

Les questions que je me pose :

• appliquer une couche conductrice : est-ce que cela ne va pas fausser la surface à étudier (exemple : pour la fourmi, ça pourrait plaquer les poils le long de son squelette) ? De même, cette surcouche pourrait masquer des détails (comme de la peinture sur une petite fissure) Comment s'en assurer ?
• comment s'assurer qu'il n'y a pas de poussière, comment les évacuer ? Au besoin faire plusieurs mesures jusqu'à obtenir une image parfaite (un peu comme en photographie traditionnelle si on a un bougé) ?
• pour le MET : comment découper des échantillons aussi fins ? (et problème de la poussière)

— Boism 23 février 2006 à 02:00 (CET)

Effectivement toutes ces questions méritent une réponse dans l'article. La partie "préparation des échantillons" est en chantier (un chantier qui tourne au ralenti certes mais un chantier tout de meme :) et je compte bien m'y remettre. Pour tout ce qui est réparation d'échantillons biologiques, je suis en train de chercher sur Wiki des contributeurs qui s'y connaitraient un peu plus que moi (la bio, c'est pas du tout mon domaine). Mais pour répondre à tes questions, d'après mes connaissance (et mes bouquis surtout) :

• Appliquer une couche conductrice, sur une fourmi par exemple, ce n'est pas comme appliquer une couche de peinture sur une fourmi... ou la fourni se retrouve noyée dans la peinture et on finit par avoir juste "un gros tas". D'après ce que j'ai pu trouvé, la taille de cette couche est de l'ordre de quelques nanomètres (moins d'un centaine) suivant les procédés... certains procédés pouvant descendre jusqu'à 1 nm. A cette échelle là, le poil de la fourmi apparait gigantesque et ne risque pas d'être mouillé ou courbé comme il le serait avec de l'eau par exemple.
• La proprété des echantillons est un gros soucis effectivement. Les mains les plus propres du monde contiennent toujours de la graisse et un tas d'autres saletés qui pourraient polluer l'échantillon. Le port de gant est la moindre des précautions à prendre mais il existe un tas de "techniques de laboratoire" pour nettoyer un échantillon : lavage à l'eau tout bête, rinçage avec des solvants plus ou moins puissants, ... Toutes les "saletés" qui restent sur l'échantillon ont de fortes chances de s'évaporer dans le chambre d'observation du microscope... et donc de la polluer ! La préparation de l'échantillon conditionne absoument l'obtention de bons clichés.
  
• Pour le MET (dont l'article est encore moins avancé que celui sur le MEB), il existe des techniques de préparations des échantillons : polissage, électropolissage (sorte de dissolution des métaux... un peu analogue à la fonte d'un glaçon, quand celui-ci est presque fondu, il y a des endroits où la glace, avant de rompre, est extrêmement fine comme par exemple, les bords d'un trou ou un pont de plus en plus fin qui relie deux morceaux plus massifs), amincissement ionique (des ions, souvent d'argons, sont projetés sur l'échantillon et viennent le "creuser"... sur les bords de ce trou, l'épaisseur du matériaux peut être réduites à quelques nanomètres).

Quand je m'occuperais un peu plus sérieusement de l'article MET, je décrirais plus en détails ces techniques... à moins qu'une âme charitable ne prenne cet article en main ! :-) Stéphane 23 février 2006 à 11:44 (CET)

Je viens de de decouvrir l espace discussion sur les articles et j avoue que ca me manquait de pouvoir donner mon avis ou precisions sans pour autant modifier un article. Concernant la couche conductrice, on peut le fait dans un evaporateur, sous vide, ce qui permet de produire des atomes (carbone, metaux - or, palladium etc.) les atomes sont ensuite emis dans la chambre et recouvrent la surface de l echantillon. Pour le xemple de la fourmi, c est comme si tu prenais un humain et que tu lui projetais de la poussiere (a peu de chose pres), l effet de la poussière sur les poils ou la surface est negligeable. La couche ne sera que de quelques nanometres.

Pour la preparation de lamelles de TEM, la methode utilisée a l université ou j ai etudié est celle du FIB (Focused Ion Beam), on envoie des ions de Gallium sur l echantillon et il se produit un effet "billard", des atomes sont expulsés et on creuse l echantillon. il reste une fine lamelle qu on vient souder a un micro/nano manipulateur et sur un support a lamelles.

Pour la poussiere, si l echantillon n est pas trop fragile, un bon bain a ultrason (avec ou sans solvant ethanol, aceton) pour les residus plus coriaces sur du metal, un peu d acide citrique dans l ultrason et en general ca suffit. Ensuite un petit coup d'air comprimé (filtré !) en aerosol et ca devrait suffir.--Bergie (d) 3 mars 2010 à 09:10 (CET)

application : construire atome par atome

Il me semble avoir lu qu'on s'était servi de ME (B ou plutôt T ???) pour positionner très précisément des atomes.

J'ai en mémoire une photo d'une puce (?) où était écrit IBM (?) atome par atome.

Ça vous parle ? Vous pouvez le rajouter dans l'article qui va bien ?

Bon, j'arrête le flot de questions là ! ;-)

— Boism 23 février 2006 à 02:03 (CET)

C'est possible avec un correcteur d'aberration sphérique (développé en 1995, à IBM, effectivement), comme il est décrit sur le très bon site français cemes.--EdC 23 février 2006 à 08:06 (CET)

La photo en question doit être celle-ci je suppose ? Dans ce cas, le microscope utilisé était un Microscope à effet tunnel... et effectivement avec ce genre de microscope, dont le principe est totalement différent du MEB ou du MET... on peut presque jouer aux billes avec les atomes ! Ce fameux IBM ecrit avec de atomes de Xénon aurait donc plus sa place dans l'article Microscope à effet tunnel quand dans celui sur le MEB ou le MET.

Merci pour toutes ces réponses qui ont bien éclairé ma lanterne ! Je me coucherai moins bête ce soir ! ;-) Bon courage pour la continuation de ces articles ! — Boism 23 février 2006 à 22:15 (CET)

A propos de Jeol et des insertions publicitaires

J'ai vu qu'il y avait une petite guerre d'édition qui commençait entre une IP, apparemment proche des services commerciaux de Jeol, puisqu'elle allait jusqu'à introduire un numéro de téléphone dans l'article, et Guillom, vigilantà l'égard de ce genre de pratiques. J'espère que tout le monde sera d'accord pour accepter des liens externes vers des pages de constructeurs, s'ils apportent quelque chose à l'article. J'ai donc remis en lien une page Jeol, mais pas la même, avec des animations que je trouve intéressantes. je précise que je n'ai aucune accointance avec Jeol, je dirais, bien au contraire. --EdC 3 mars 2006 à 08:29 (CET)

Ça me convient :) Guillom 3 mars 2006 à 08:31 (CET)

Effectivement, une IP a à plusieurs reprises mis le lien et le numéro de téléphone de JEOL France sur plusieurs articles (Microscopie électronique à balayage, Spectrométrie de fluorescence X, Microscopie électronique en transmission). On ne peut pas dire que c'est de la pub (ça ne va pas je pense insiter les lecteurs à acheter un microscope) mais ça resemble tout de même à du spam et ça surcharge surtout les références pour rien. Un lien vers la page technique d'un MEB sur l'article MEB et qui pointe vers une page précise (en gros, un lien utile) apporte dans ce cas une infos et mérite (je pense) de rester dans l'article. Stéphane 3 mars 2006 à 08:37 (CET)

Problème avec Image:Canon.svg

J'ai un problème avec cette illustration Image:Canon.svg. La schéma qui apparait dans le texte n'est pas le même que celui qui apparait sur la page [1]... qui n'est non plus pas le même que le fichier original que j'ai créé. J'ai purgé le cache, rechargé l'image... et le résultats est le même (ce schéma devrait être légendé normalement). Est-ce que ça vient du format .svg (je ne l'avais jamais utilisé avant) ? Est-ce que quelqu'un a une idée ? Stéphane 7 mars 2006 à 10:42 (CET)

Moi pas connaitre format .svg, mais ce qui est sûr, c'est que cette image, hélas buggée, est beaucoup mieux que la figure de l'article "canon à électrons"--EdC 7 mars 2006 à 11:00 (CET)

Je viens de refaire un schéma en format SVG Image:Interaction.svg... et encore une fois, ce que je vois sur mon écran avant de charger le fichier ne ressemble pas à ce qui s'affiche dans l'article. Les légendes n'apparaissent pas et certaines flèches n'ont pas la même forme. Si quelqu'un sait ou se trouve le problème, qu'il n'hésite pas à me le dire. Stéphane 7 mars 2006 à 22:00 (CET)

J'ai déjà rencontré ce genre de problèmes. Je m'en occupe dès que j'ai le temps. Guillom 7 mars 2006 à 22:07 (CET)

Ah bon... si apparement tu connais une solution alors tant mieux. Je ne savais pas si ça venait d'un bug de Wikipédia qui n'arrive pas à lire ce format SVG ou alors de ma version d'Inkscape qui "fabrique" un fichier buggé. D'avance, merci si tu arrives à résoudre le problème. Stéphane 7 mars 2006 à 22:15 (CET)

J'ai réussi à remettre le texte sur Image:Canon.svg et Image:Interaction.svg avec la manip suivante : Texte > Unflow puis en remettant une taille de police adéquate. Cela m'est souvent arrivé, je l'attribue à un problème de compatibilité entre les versions d'Inkscape et de MediaWiki. Pour les flèches, pas de solution pour le moment :/ Je ne suis pas sûr de passer sur cette page régulièrement, alors n'hésite pas à me demander de l'aide sur ma page de discussion, Stéphane. Guillom 7 mars 2006 à 22:29 (CET)

Chambre d'observation et nouveau plan

Il y a une nouvelle illustration sur la chambre d'observation dans l'article en:Scanning electron microscope. Je l'ai récupérée, mise sur Commons et ajoutée à l'article... y a plus qu'à rédiger le paragraphe maintenant !

Sinon, le nouveau plan de l'article me chiffonne un peu. En l'état, le paragraphe Microscopie électronique à balayage#L'interaction électron-matière arrive après Microscopie électronique à balayage#Le détecteur d'électrons secondaires (détecteurs Everhart-Thornley) alors que pour comprendre le fonctionnement de ce détecteur, il fait un minimum savoir ce que sont les intéractions électrons-matière. Il faudra peut-être remodifier l'ordre de certains paragraphes. Stéphane 7 mars 2006 à 22:40 (CET)

Est-ce que finalement, il ne faudrait pas mettre carrément avant l'instrumentation, l'interaction "éléectron-matière" ? Pour la chambre d'observation, celle-ci est très dépendante des applications, et finalement, c'est là la faiblesse de l'article, l'absence d'un paragraphe présentant globalement les applications principales. Je n'ai pas de bouquin récent sur le SEM qui ferait cette présentation. --EdC 8 mars 2006 à 07:52 (CET)

C'est le même problème pour tous les articles "techniques". Il faut essayer de couvrir tous les domaines et satisfaire la curiosité de tous les lecteurs. Ceux qui s'y connaissent en MEB veulent des chiffres, des équations, infos techniques, poussées et ceux-ci qui n'y connaissent rien du tout mais sont curieux veulent avant tout savoir : Qu'est ce que c'est ? A quoi ca ressemble ? A quoi ça sert ? Et c'est vrai que le à quoi ça sert un MEB ? manque à l'article. On pourrait commencer l'article par un paragraphe Microscopie électronique à balayage#Présentation d'introduction qui résumerait les avantages d'un MEB, les domaines d'utilisation, les résultats qu'on peut en tirer et qui serait organisé de telle façon qu'il laisse deviner la suite du plan de l'article.

Quant à la chambre d'observation, c'est vrai qu'elle risque fort d'être différente si on on travaille en vide poussé ou si c'est MEB environnemental mais il faudrait de donner une descritpion globale en mentionnant quelques unes des particularités.

Sinon, je pense qu'il manque aussi une partie sur la formation des images. Aucun moment on ne parle clairement de ce qu'on "voit" quand on observe quelque chose au MEB et quelqu'un qui ne s'y connait pas pourrait très bien penser qu'on regarde à travers un occulaire !

Bon... y a encore du boulot ! Stéphane 8 mars 2006 à 09:26 (CET)

PS:Merci EdC pour les ajouts, merci Guillon pour les images.

Effectivement, il manque une introduction sur le principe même du balayage. Ce ne sera pas trop difficile à faire, mais nécessitera quand même un schéma. Par contre, je ne sais pas où trouver des informations de préférences récentes sur les différents domaines d'application. Je connais un peu les applications pour les semiconducteurs, recherche et contrôle dimensionnel en fab, mais je n'ai aucune idée précise sur les applications en biologie et dans les autres domaines. --EdC 12 mars 2006 à 23:15 (CET)

Interêt du paragraphe Préparation des échantillons

Je me pose des question sur l'interêt et la pertinence de ce paragraphe. Ces préparation sont des techniques de laboratoire utilisées en microscopie à balayage certes... mais est-ce que ça a sa place dans un article général sur le MEB ? Il ne faudrait pas que ce paragraphe ressemble trop à un guide de préparation des échantillons. Quelqu'un a un avis ? Stéphane 2 avril 2006 à 14:35 (CEST)

J'ai du mal à me faire une opinion sur la diffusion des MEB en biologie. J'aurais tendance à penser qu'elle y est marginale, que les biologistes utilisent davantage des TEM, pour dire les choses en français, et que par conséquent le gonflement du paragraphe sur le préparation des échantillons biologiques est exagérée dans l'article MEB. Je serais donc favorable à un article séparé "préparation des échantillons biologiques en microscope électronique, et de faire un paragraphe très succinct dans l'articles sur les MEB, juste pour dire que dans le cas général, on métallise les échantillons et que pour les échantillons biologiques, c'est un peu plus compliqué. pour les TEM, il faudrait aussi créer un article "préparation des échantillons par FIB" qui est devenue une discipline à part entière. --EdC 2 avril 2006 à 21:30 (CEST)

Article de qualite

Dans son domaine, je ne vois pas trop ce qui peut surpasser cet article. Bravo aux contributeurs. patapiou (Discuter) 21 juin 2006 à 19:03 (CEST)

Alors, Stef, tu te lances ? --EdC / Contact 21 juin 2006 à 23:28 (CEST)

canon electron SEM

Bonjour Il est mentionne dans l'article: Il existe 2 familles de canon à électrons selon le principe utilisé pour extraire les électrons.

L'émission thermoïonique, appelé aussi effet Schottky, avec les filaments de tungstène et pointes LaB6 L'émission par effet de champ

L'emission thermoionique (ou plus precisement thermoelectronique car ce sont des electrons qui sont emis et non des ions) n'est pas un processus schottky. Par l'elevation de temperature, les electrons sont amenes au niveau d'energie du vide, dans un conducteur la difference entre le 0ev et le niveau de Fermi (4,5eV pour le W 2,8eV pour le LaB6) puis acceleres par -HT. L'effet Schottky utilise dans les TFE consiste dans un premier temps a abaisser la bariere de potentiel c a d la difference entre niveau de Fermi et vide, par diffusion de ZrO vers la pointe en la chauffant puis un potentiel sur l'anode extractrice afin de provoquer l'effet tunnel. De plus une grille aditionnelle (wehnelt) est ajoutée afin de supprimer les electrons thermiques dus a l'emission thermoelectronique. du fait de l'elevation de temperature, l'agitation thermique est plus importante que dans le CFE et donc le "beam spreading" c a d la monochromacite plus large donc augmentation des aberrations chromatiques. En contrepartie technologie du vide moins poussee et meilleures stabilite et courrant de faisceau + important. Sinon article tres complet et tres bien documente, ma position dans le milieu m'interdit d'y repondre directement amicalement Jacky

Merci pour ces remarques, Jacky. Je vais supprimer l'équivalence Thermoïonique=Schottky dans cet article. Par contre, la tâche est moins aisée dans l'article canon à électrons qui, lui, se devrait d'âtre plus précis et plus rigoureux. On pourra y faire mention de la correction Schottky dans le calcul de l'émission d'un canon "thermoïonique". J'ai toujours été surpris, effectivement de l'usage de ce terme, très répandu, au dépens de "Thermoélectronique". Les coupables sont sans doute nos amis anglophones qui ont réussi à nous intoxiquer. Votre contribution, par exemple sous un pseudo judicieusement choisi, serait naturellement bienvenue, par exemple, pour l'article Microsonde de Castaing qui aurait bien besoin de votre compétence. --EdC / Contact 30 juin 2006 à 09:06 (CEST)

Bonsoir En effet je crois me rapeller que dans certains tubes electroniques on utilisait des cathodes au Baryum ou au Cerium en chauffage direct ou indirect, pour peut etre faire baisser le travail de sortie par effet schottky , et augmenter le debit electronique. Mais a ma connaissance, ceci n'a jamais ete utilise dans les SEM ou TEM Amicalement Jacky

Pour chercher à vous enrôler dans wikipedia, j'ai cherché à vous joindre sur votre adresse professionelle, telle qu'elle figure sur votre page personnelle, mais il semble que l'adresse ne soit plus valable. Peut-être pouvez-vous me contacter ? --EdC / Contact 1 juillet 2006 à 15:41 (CEST)

Wrong picture

The SEM scheme in the picture has a mistake: the Objectif is not in that place! The objective lens must be under the coils (Bobines). --83.191.180.249 17 février 2007 à 19:36 (CET)

There are actually 3 images with SEM schemes in this article, and I do not see any with the objective under the coils. Which picture do you mean exactly ? --EdC / Contact 17 février 2007 à 22:07 (CET)

Bandeau Bon article

Il semblerait que cet article soit reconnu comme un Bon Article ce qui est tout à fait normal vu le contenu important d'informations contenu dans cet article. Quelqu'un pourrait il apposer le bandeau Bon Article ? Ne pourrait on pas non plus envisager de classer cet article comme Article de Qualité ? Quel travail reste-t'il à faire, je connais pas grand chose au sujet. Pamputt ^[Discuter] 11 juin 2007 à 00:29 (CEST)

Cet article n'est pas mauvais, certes, mais il n'a pas encore passé son examen de "Bon article". Je viens de le parcourir et, mystère de la technique, l'image "Electron secondaire.jpg" ne veut pas s'ouvrir. Cela ne m'arrive-til qu'à moi ? Ceci est un détail qui devrait se régler. Sur le fond, je crois que cet article qui repose sur des bases historiques assez solides n'est pas éligible AdQ, compte-tenu des usages qui se sont récemment développés et qui restreignent le label AdQ à des articles "presque parfaits". Mission impossible pour la "Microscopie électronique à balayage" qui est un domaine tellement vaste, qu'il présentera toujours nécessairement quelques grosses lacunes au niveau de certaines applications et de certains développements récents. J'allais écrire qu'il manquait un article satellite Émission secondaire, mais je viens de voir qu'il en existait un, je vais le rajouter dans le texte, mais cet article est encore très faible. Résume BA, sans doute, AdQ, c'est aller au casse-pipe.--EdC / Contact 11 juin 2007 à 08:56 (CEST)

C'est article est évalué comme Bon Article dans le wikiprojet physique. Si ce n'est pas le cas, autant rendre ça officiel et le proposait comme Bon Article. Quelqu'un ayant travailler sur le sujet et connaissant bien le sujet pourrait-il le proposer ? Pamputt ^[Discuter] 11 juin 2007 à 10:04 (CEST)

Le problème, c'est qu'il n'y a plus grand-monde qui a l'air de suivre l'article. Avant, il y avait Steff, mais il a l'air de s'en désinteresser pour des raisons que je peux deviner. Et pis y'a moi, mais en ce moment, je ne me sens pas la disponibilité de soutenir convenablement une candidature. Parce que ça ne sert à rien de proposer un label si on n'est pas prêt à effectuer un minimum de modifs demandées par les membres du jury.--EdC / Contact 11 juin 2007 à 22:10 (CEST)

Exact, il y a plus qu'à attendre que quelqu'un de compétent et qui a le temps et le motivation s'intéresse au sujet. Pamputt ^[Discuter] 13 juin 2007 à 13:27 (CEST)

MEB couplé rayons X

Bonjour, Je cherche un principe de MEB couplé rayons X qui soit assez précis, mais sans rentré dans des détails techniques. Auriez vous des informations à me donner? S.V.P Merci

Proposition « bon article » (BA)

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MEB Mode Cryo ?

Bonjour, je suis tombé sur cet article bien complet, mais il m'est apparu qu'il y avait un manque. En effet, je pense qu'une petite présentation de cette technique basse temperature serait profitable a cet article. L'EBSD étant décrite, je pense que le mode Cryo a sa place. Vos avis?

Bonjour, bien sûr que le mode cryo pourrait avoir une petite place (au chaud) dans cet article. Vous sentez-vous les compétences pour écrire un petit paragraphe ? Il n'est pas nécessaire de s'enregistrer, mais c'est plutôt mieux. Vous bénéficierez ainsi d'une page de discussion perso et les contacts seront plus faciles. --EdC / Contact 7 décembre 2007 à 22:34 (CET)

Bonjour, et bien, oui je pense, il faut surtout que je trouve le temps et que j’apprenne le format d'écriture que je ne connais pas. Le cryo c'est surtout la phase préparatoire des échantillons qui nécessite une description, le reste étant plus lié aux soucis d'artefacts (que je maîtrise moins malheureusement). Pour l'illustration j'ai des photographies personnelles que je fournis bien volontiers. Je regarderais ce soir pour m'enregistrer si j'ai le temps.

Pour écrire, ce n'est pas très compliqué. En regardant la correspondance entre un article et son code en mode éditeur, on atteint vite un niveau honorable, et de toutes façons vous n'aurez pas de mal à trouver un "grand frère" qui vous guidera. Pour les images, ce n'est pas compliqué non plus, mais la difficulté peut quand même être dissuasive pour un débutant. Je pourrais prendre en charge dans un premier temps le chargement d'images dans les "commons" avant que vous ne voliez de vos propres aîles. --EdC / Contact 10 décembre 2007 à 20:08 (CET)

bon je vais m'y mettre doucement

Détecteurs Everhart-Thornley et autres remarques

Quelques remarques sur cet article, par ailleurs assez complet et bien fait.

Concernant la colonne pour canon à émission de champs, si la colonne Gemini de Zeiss est un concept très intéressant (optique "à l'infini"), elle n'est de loin pas le représentant typique des MEB equipés de source à émission de champs. Les autres constructeurs utilisent des colonnes plus "classiques" "condenseur-objectif", ou "condenseur -lentille intermédiaire- objectif", etc. La question des cross-over dans la colonne est un peu un faux problèmes, car si, dans les conditions habituelles d'observation en MEB, on calcule la vitesse d'un électron, rapportée à la dimension d'une colonne, on voit qu'il n'y a pas beaucoup plus qu'un électron à la fois à tout instant dans la colonne, donc pas ou peu d'interaction Coulombienne entre électrons. Zeiss met ce point en avant, mais c'est plus un argument commercial qu'un avantage tangible ! Cela n'enlève rien à l'intérêt de cette colonne, qui est plus dans l'utilisation combinée du champs magnétique de l'objectif et du champs électrostatique retardateur/accelerateur du "beam booster". La manière dont la colonne Gémini est présentée laisse penser que c'est LA colonne pour MEB-FEG.

Le deuxième point, plus fondamental, concerne le détecteur Everhart-Thornley et l'imagerie dite en "électrons secondaires".

Il n'est pas judicieux d'appeler ce détecteur "détecteur d'électrons secondaires". Je sais que beaucoup de livres et d'articles utilisent cette appellation un peu historique, mais en fait fausse. Le détecteur E.T. détecte en polarisation positive quasiment toujours un mélange de secondaires et de rétrodiffusés en proportions variables et contrôlables. Les proportions dépendent de l'échantillon, de l'énergie primaire, de la manière dont le détecteur est monté sur le MEB (horizontal ou incliné) et de la distance de travail. Dans Goldstein et al. (ed. 2003, page 128), il est présenté comme : "The electron detector commonly used in SEM is the combined secondary/backscattered electron detector developped by Everhart and Tornley etc".

L'expérience suivante (plus simple à faire sur un vieux MEB, sans PC !) illustre cela :

1. On prend un échantillon un peu rugueux (fracture d'une roche, d'un métal, etc), à courte distance de travail et à mettons 15 keV. On fait une image à x500 ou x1000, avec un réglage correcte de la mise au point et du contraste/brillance.
2. On passe à une grande distance de travail, sans toucher au contraste et à la brillance, et on rattrappe la mise au point. On voit que l'image est plus claire et plus contrastée. Pourquoi ? Parce que la géométrie permet une plus grande collection des rétrodiffusés.
3. On baisse alors l'énergie primaire à 5 keV, voir 3 keV, de nouveau sans toucher au contraste et à la brillance. On rattrappe la mise au point, et de nouveau on voit que l'image s'est éclairée. Pourquoi ? Parce qu'en baissant l'énergie on augmente le rendement d'émission secondaire, et on émet plus de secondaires. (Voir à ce sujet l'article de Seiler H. : Secondary emission in the scanning electron microscope JAP 54, Nov. 1983).

On a ainsi changé à chaque fois la proportion entre les deux types de signaux.

L'effet de relief des images MEB provient bien de la position latérale du détecteur E.T., mais porté par les électrons rétrodiffusés et non les secondaires. Si on supprime les rétrodiffusés (en formant l'image avec le signal d'un spectromètre d'électrons munis d'un collecteur polarisé et calé vers 5-10 eV, sur le pic des secondaires, un montage peu courant !), on aura une images assez plate, par l'absence de l'effet d'ombrage fourni par les rétrodiffusés. Les secondaires sont collectés de "partout", sans que le relief provoque d'ombrages.

On peut dire que dans une image avec le détecteur E.T. les secondaires donnent le détail, la définition de l'image, et les rétrodiffusés le contraste, le relief. En passant en polarisation négative, on voit bien qu'il reste une image alors même qu'on repousse les secondaires. Mais cette image comporte des zones très sombres et sans détails visibles, dans les parties se trouvant "à l'ombre" du détecteur E.T. de par le relief, d'où on collecterait des secondaires en polarisation positive.

L'aspect de l'imagerie en électrons secondaires abordé plus loin prête du coup à confusion, d'autant plus que depuis une dizaine d'année, il y a de plus en plus de MEB équipés de détecteur "dans l'objectif" (avec des appellations différentes selon les constructeurs), qui eux ne détectent effectivement QUE des secondaires (plus ou moins bien !), dont c'est la vocation et qui s'appellent à juste titre "détecteur d'électons secondaires". Ce n'est pas juste pour une question de place qu'on met ces détecteurs, comme le dit aussi le paragraphe sur la colonne Gemini. L'image qu'ils donnent est bien différentes de l'image fournie par le détecteur E.T. en polarisation positive : aplatissement du relief (collection par au dessus), grand gain en résolution, particulièrement à basse énergie primaire (la poire de diffusion devient du même ordre de grandeur que la profondeur d'échappement des secondaires) permettant des grandissements jusqu'à x300.000 à x600.000, mais aussi plus grande sensibilité à la charge de surface sur des isolants. Des avantages et des inconvénient !

Enfin, il me semble que trois points complèteraient bien l'article :

1. Il serait bien d'introduire la poire de diffusion en début de la partie interaction électrons-matière, avant la description des différents rayonnements émis, avec une illustrations du style Goldstein 1981, page 69 (fct de Z et énergie primaire), qu'on peut générer à l'aide du programme de Monte Carlo "Casino". Ceci permet de donner dans la suite des indications sur le volume concerné (et donc la résolution spatiale limite qui en découle) pour chaque rayonnement.
2. Concernant l'échantillon, il serait bon de donner en premier les contraintes générales que sont la tenue au vide (sauf MEB à vide contrôlé), la conduction électrique (sauf basse tension et MEB à vide contrôlé de nouveau), et la tenue au faisceau d'électron (transfert d'énergie, transformations, fusion, contamination). A partir de là on peut alors détailler plus ou moins les familles d'échantillons et les préparations qui en découlent. Concernant la métallisation, il faut signaler qu'en MEB haute résolution, la métallisation peut cacher les détails fins et être plus une source de problèmes qu'un gain !
3. Dans l'inventaire des types d'imageries (EDS/WDS, EBIC, EBSD, etc.), il conviendrait pour être complet d'ajouter la cathodoluminescence (CLS).

--130.79.152.3 (d) 25 février 2008 à 17:52 (CET) jcqs67

Je me suis permis de remettre votre contribution dans l'ordre chronologique. Merci, en tous cas pour cette lecture attentive et perspicace et les remarques qui en résultent et qui sont une bonne base pour l'amélioration de l'article. Toute modification qui irait dans votre sens aurait ma bénédiction. Reste à trouver quelqu'un qui ait le minimum de disponibilité pour mener à bien ces modifications. Même si vous vous montrerz très raisonnable dans vos suggestions, elles nécessitent quant même de générer des images, de trouver les références etc... Bref, moi perso, pas avoir le temps maintenant. Si quelqu'un d'autre volontaire, moi le soutenir moralement et peut-être plus.--EdC / Contact 27 février 2008 à 14:40 (CET)

si ça peux vous être utile, je vous donne volontier les images suivantes ([2] mais également ça [3]) c'est en png là mais je peux fournir le svg correspondant

Merci pour ces poires ! Pour qu'on puisse les enregistrer dans les Commons, je crois qu'il faut pouvoir garantir qu'elles sont du domaine publique ou que leur auteur en permet l'utilisation soit sans condition, soit à condition d'indiquer l'auteur. --EdC / Contact 27 février 2008 à 18:19 (CET)

ESEM

“Intégration de l'ESEM sur un mode moins publicitaire” n'est pas science. en:ESEM est science. “Publicitaire et democracie” ou science de la microscopie?

 Excusé moi, c'est non-problème!  OK.  Merci. (attention: en:ESEM)

Intérêt des électrons

Bonjour, je pense qu'on pourrait rajouter un paragraphe sur l'intérêt d'utiliser des électrons plutôt qu'autre chose (proton, neutron, ions, ...) Je n'ai pas vu une telle information dans l'article mais je n'ai pas lu. Donc je met ici mes réflexions en attendant de trouver comment les insérer dans l'article (si vous pensez que ça peut être intéressant). Donc tout d'abord, il est bien signaler dans l'article que les électrons ont une longueur d'onde (au sens quantique) plus courte que les photons visibles ce qui permet d'explorer des éléments plus petits qu'avec des photons visibles. Tout d'abord, première question, pourquoi être passé aux électrons plutôt que d'utiliser des photons UV (ou X) avec une caméra UV (ou X) pour analyser l'objet étudié. Je ne connais pas la réponse à cette question, peut être pour des raisons historiques ; on maîtrisait plus facilement les électrons lors des débuts de la microscopie électronique que les rayons UV (ou X) et surtout on ne savait peut être pas bien fabriquer de capteur UV (ou X). Ensuite, pourquoi utiliser des électrons plutôt que d'autres particules telles que le proton, le neutron, ions, ou autre qui ont eux aussi des longueurs d'onde (quantique) plus courte que celle des photons visibles. Pour plusieurs raisons,

- l'électron est chargé ce qui rend "facile" son guidage avec des champs électriques et magnétiques (on exclut donc le neutron et toutes les autres particules neutres (atomes, ...)

- l'électron possède une faible masse (comparé au proton par exemple, pire pour les ions) ce qui facilite son accélération et son guidage que dans le cas d'utilisation de protons par exemple

- les sources d'électrons sont relativement simple à fabriquer (par rapport à des sources d'autres particules)

- enfin, les électrons provoquent très peu de dommages aux matériaux étudiées comparé à un faisceau de protons, ions, ... ce qui est également un avantage. C'est une technique d'analyse non destructive.

Voilà un petit tour des lieux sur l'avantage d'utiliser des électrons. Ca reste à mettre en forme si on veut l'ajouter dans l'article mais les idées sont là. Qu'en pensez vous ? Pamputt ✉ 29 novembre 2008 à 18:31 (CET)

Salut. Il me semble que les argumentaires de ce genre, s'ils sont pertinents, devraient trouver naturellement leur place dans la partie historique, en exposant les motivations qui ont conduit aux différents développement du MEB. Dans l'histoire du développement d'une technique expérimentale en général, on a un avantage dont on veut tirer partie, et le reste on s'en accommode. Par exemple, tu dis que l'électron peut être "facilement" guidé par des lentilles électromagnétiques, mais dans les débuts ça n'était pas du tout le cas, on ne savait pas les faire ces lentilles. On y a mis les moyens parce qu'on voulait faire du MET et du MEB, et aujourd'hui on sait faire, mais ce n'est pas pour autant qu'on peut dire aujourd'hui dans un article sur le MEB que ce guidage facile est un avantage de l'électron par rapport à d'autres particules pour une "imagerie par balayage d'un faisceau de particules".

Plus généralement, sans être un spécialiste de l'histoire du MEB, j'ai quand même la ferme impression que la question ne s'est jamais posée en terme de comparaison entre l'électron et une autre particule ; il n'y a jamais eu me semble-t-il de choix à faire à ce sujet. Le principe même du MEB repose complètement sur les spécificités de l'électron (électrons secondaires, auger etc.). Du coup, les comparaisons que tu proposes me semblent très artificielles. Quelle que soit l'autre particule qu'on imagine, même sans parler des contraintes techniques, on serait sensible à autre chose, ce serait une technique complètement différente. Je ne suis donc pas chaud du tout pour faire un paragraphe là-dessus. Tizeff (d) 29 novembre 2008 à 19:45 (CET)

Je ne crois pas non plus que la question se soit posée ; après des siècles d'énigmes et de difficultés multiples liées au spectre électromagnétique, s'en affranchir (délibérément ou non) par le recours à l'électron a du être une prodigieuse aspiration (pour rejoindre la question ci-dessous  ; pour le reste quand on a une particule quasi-parfaite sous la main, pourquoi regarder ailleurs même un instant tant que les limites de celle-ci ne sont pas atteintes ? TigHervé (d) 29 novembre 2008 à 19:55 (CET)

Bonjour à tous. Je tiens d'abord à signaler que cet article a obtenu le label « Bon Article », c'est-à-dire qu'on ne s'attend pas à le voir progresser avec quelques propositions « de bon sens », mais exclusivement avec des bouquins traitant de la microscopie électronique à balayage. Les arguments de Pamputt ne sont pas tous pertinents: S'il est vrai que les lentilles magnétiques sont pratiquement interdites aux sondes protoniques et aux sondes ioniques, les lentilles électrostatiques permettent quand même de faire de belles choses et les gens du métier savent qu'il est plus facile de manipuler des ions que des électrons, précisémment à cause de l'extrême sensibilité des électrons aux champs magnétiques. La vitesse n'est pas un but en soi. Le même champ électrique communiquera la même énergie aux ions qu'aux électrons. Même la non-destructivité est à prendre avec des pincettes: Dans un microscope à balayage courant, le vide n'est pas extraordinaire, et la contamination organique résultant de l'impact du faisceau d'électrons ne laisse l'échantillon dans l'état où il avait été introduit dans la chambre. Les sondes protoniques sont considérées comme suffisamment peu destructrices pour que les conservaters de musées consentent à laisser passer les oeuvres d'art sous les faisceaux de protons. Mais ce que je voulais surtout dire, c'est qu'il n'est pas nécessaire dans un article sur la perceuse électrique de dire en quoi elle est supérieure à la tondeuse à gazon. La sonde protonique existe mais son article n'existe malheureusement qu'en anglais (en:Particle-Induced X-ray Emission) et encore ce n'est qu'une ébauche. La sonde ionique existe aussi mais sont considérés comme des instruments de la famille SIMS et ils font de belles images. Chacune de ces techniques permettent de donner sur un échantillon des informations qu'une autre technique ne permettra pas de donner. C'est en améliorant ces articles que l'on pourra rassasier la légitime curiosité de Pamputt. La section "Histoire" de cet article et celle de Microscopie électronique en transmission indiquent assez clairement, il me semble, que les électrons ont existé aux yeux des hommes par le truchement du Tube cathodique qui était entre leurs mains depuis la fin du XIXeme siècle. Résumé: En rajoutant du non-sourcé à cet article, on risque de faire plus de mal que de bien.--EdC / Contact 30 novembre 2008 à 22:10 (CET)

Peut-être qu'il serait possible d'en parler là : microscope électronique, mais pas trop le rajouter ici, surtout si c'est pour dire des trucs à moitié vrai/faux (les sources ca permet aussi d'empecher de dire des conneries ). Autrement, il y a déjà des microscopes à hélium qui sont commercialisés [4]. Elgauchito (d) 30 novembre 2008 à 23:09 (CET)

Importance du vide

Bonjour, il pourrait être intéressant de mettre une phrase explicative ou deux pour expliquer en quoi un vide poussé est important. Il y en a déjà une au niveau des électrons Auger. Mais de manière générale, un vide poussé permet d'obtenir un faisceau d'électrons primaires le plus fin possible et mononcinétiques. En effet, si le vide n'est pas très poussé, les collisions des électrons seront relativement importantes ce qui aura pour conséquence d'une part d'élargir le faisceau (par diffusion avec les atomes de l'air) et d'autre part de ralentir certains électrons du faisceau (suite à des collisions) ce qui fait que les électrons du faisceau n'auraient pas tous la même énergie. Cela compliquerait l'analyse des électrons secondaires ou diffractés. Pamputt ✉ 29 novembre 2008 à 18:59 (CET)

Bonsoir, Pamputt, ta remarque est intéressante: il y aurait lieu de créer une section traitant du vide. Dés que j'ai de la documentation sous la main, je peux le faire. Attention, il faut bien distinguer le vide dans la colonne et le vide dans la chambre objet. Le vide dans la colonne n'a pas besoin d'être très poussé pour ne pas créer de dispersion énergétique (1E-5 Torr est suffisant). C'est l'effet Boersch qui crée la dispersion en énergie même si le vide est très bon. Par contre, dans la chambre objet, on a besoin d'un ultra-vide (meilleur que 1E-10) pour faire de l'analyse Auger, alors que les MEB environnementaux s'accomodent d'une pression partielle très élevée.--EdC / Contact 30 novembre 2008 à 22:22 (CET)

Problème avec Image:Sem_retrodiffused_electron.svg

Bonjour a tous, j ai un doute a propos de cette image concernant les electrons retrodiffusés. On voit que l electron est repoussé par le noyau sur cette image, ne serait-il pas plus logique que l electron soit attiré par le noyau (charge negative et charge positive) et donc que l'electron descende encore un peu sous le noyau et soit ensuite attiré (dévié) et reparte ensuite vers le haut ? Une image expliquera peut etre mieux ma pensée: IMAGE BSE. Je ne trouve dans aucune littérature un schema qui explique cette interaction pour confirmer ou infirmer cette proposition.-- Bergie (d) 3 mars 2010 à 09:33 (CET) EDIT: Je viens de trouver ces sites: http://mse.iastate.edu/microscopy/backscat2.html et http://www.emal.engin.umich.edu/courses/sem_lecturecw/sem_bse1.html qui confirment, mais sans donner de sources. --Bergie (d) 27 septembre 2010 à 10:59 (CEST)

Très bonne remarque et bravo pour l'avoir faite: les électrons rétrodiffusés étant générés par des interactions dominées, en gros, par une Diffusion Rutherford, la figure est tout à fait inappropriée. Je n'avais pas vu que la remarque date déjà du mois de mars. Il faudait remplacer cette figure.--EdC / Contact 27 septembre 2010 à 21:04 (CEST)

Un microscope c'est un instrument d'optiquequi permet d'observer des choses invisible a l'oeil nu.Il permet aussi de faire des agrandissement de 1500 à 2500 fois. comment dois-je procéder pour utiliser un microscope? 1.Je place la plaquette sur la platine et je régle grace au valet. 2.je place l'objectif choisi dans le prolongement du tube obtique. 3.j'allume la loupe ou le systhème d'éclairage et je régle grace au diaphragme. 4.je descend au maximum, le tube obtique a l'aide de la grosse visse 5.je place l'oeil au dessus de l'oculaire 6.je remonte jusqu'a voir le tube obtiquejusqu'a voir l'objet. 7.j'utilise la visse micrométrique pour regler la netté de l'image

Contestation du label BA

En vrac : sourçage insuffisant et traitement parcellaire, notamment des applications existantes.--Le Silure (discuter) 5 mars 2021 à 15:16 (CET)

Bonjour Le Silure (d · c · b). Est ce qu'il serait possible de faire une liste exhaustive de ce qui ne va pas/manque à cet article en modifiant Discussion:Microscopie_électronique_à_balayage/À_faire par exemple. Car dans les griefs que tu exposes actuellement, je pense que ce n’est pas assez précis pour justifier d'un retrait de label. En particulier, un label BA ne prétend pas fournir un article parfait (voir les imperfections tolérées). Pamputt ✉ 5 mars 2021 à 21:26 (CET)

Bonjour à tous les deux. Il y a plus de dix ans de cela, cet article et sa qualification BA avait été le fruit d'une heureuse et joyeuse collaboration entre plusieurs contributeurs qui ont maintenant disparu de la circulation où qui semblent ne plus guère s'intéresser à la microscopie électronique. En ce qui me concerne, je ne contribue plus qu'à un niveau assez bas à notre chère encyclopédie, et s'il fallait faire des améliorations à cet article, je ne suis plus dans un environnement technique qui me permette de le faire. D'accord avec Pamputt, avant de rétrograder, il faudrait peut-être faire une liste, en discuter, et donner un ultimatum de quelques mois avant de sanctionner.--EdC / Contact 7 mars 2021 à 01:08 (CET)

Bonjour à tous les deux,

Dans l'ignorance de savoir si des gens seraient intéressés pour venir en discuter, mon annonce initiale était volontairement lapidaire ; je vais développer, notamment en posant des balises Référence souhaitée partout où le texte est non sourcé. Parmi les manques en termes de contenu, à titre personnel je pense que des détails supplémentaires sur le wobble/astigmatisme du faisceau sont nécessaires, et les applications en sciences des matériaux sont un peu légères (pas de mention de la cartographie des orinetations cristallographiques par EBSD par exemple). La phrase qui indique que les échantillons métalliques nécessitent un simple nettoyage est très douteuse : il faut souvent un polissage miroir voire des attaques chimiques pour observer la microstructure des échantillons métalliques.

 EdC : Je suis bien aise que vous soyez passé par ici, j'ai une question pour vous : dans la partie historique (et autres), la source donnée en fin de section a t-elle vocation à sourcer tous les paragraphes ou seulement le dernier ? C'était peut-être l'usage à l'époque, mais il me semble bien que maintenant qu'il doit y avoir au moins une source à la fin de chaque paragraphe pour éviter les ambiguïtés.

Je n'ai bien entendu pas l'intention de mener de contestation si un ou plusieurs contributeurs remettent le nez dans cet article , au moins pour remettre le sourçage d'aplomb. Il ne faudra pas compter sur moi néanmoins — la critique est facile, l'art difficile, je sais ! — car c'est relativement éloigné de mes domaines de contribution habituels.

Bien à vous, --Le Silure (discuter) 7 mars 2021 à 09:03 (CET)

En 2008, les exigences de sourçages étaient déjà bien établies, mais sans doute moins sévères que ce qu'elles sont maintenant. Je vais voir si je peux arranger les choses. Par chance, en ce qui concerne l'historique de la MEB, j'ai sous la main une publi de 2004 de C.W. Oatley, The Early History of the Scanning Electron Microscope et je viens de voir que pour toutes les sections qui se réfèrent au Goldstein, celui-ci est pratiquement entièrement visible sous google books.--EdC / Contact 8 mars 2021 à 00:58 (CET)

Préparation de l'échantillon

Pas de mention de la technique de cryofracture pour les échantilons biiologiques… À insérer avec un lien vers la page idoine ? --WikiJLP (discuter) 3 décembre 2021 à 10:33 (CET)